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EMC測(cè)試指南
一、EMI(電磁騷擾)分射頻和工頻兩類測(cè)試
射頻類測(cè)試項(xiàng)目:
1.1 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試
射頻傳導(dǎo)(屏蔽室測(cè)試)
1.1.1 傳導(dǎo)分電壓和功率兩項(xiàng)測(cè)試
1.1.2 傳導(dǎo)電壓標(biāo)準(zhǔn):CISPR11、14、15、22
1.1.3 傳導(dǎo)功率標(biāo)準(zhǔn):CISPR11、14
射頻輻射(電波暗室測(cè)試)
1.1.4 射頻輻射標(biāo)準(zhǔn):CISPR11、22、IEC60571
工頻類測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)
1.2 工頻分諧波和閃爍兩項(xiàng)測(cè)試
工頻諧波1.2.1 IEC6100-3-2
工頻閃爍1.2.2 IEC6100-3-3
二、EMS(電磁敏感度)分瞬變、射頻、低頻磁場(chǎng)、電源質(zhì)量
瞬變類測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)
2.1 瞬變分靜電、瞬變脈沖和浪涌三項(xiàng)測(cè)試
瞬變靜電IEC6100-4-2
瞬變脈沖IEC6100-4-4
瞬變浪涌IEC6100-4-5
射頻類項(xiàng)目
2.2 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試
射頻傳導(dǎo)IEC61004-6(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)
射頻輻射IEC6100-4-3(電波暗室測(cè)試)
低頻磁場(chǎng)類測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)
2.3 低頻磁場(chǎng)分脈沖磁場(chǎng)和工頻磁場(chǎng)兩項(xiàng)測(cè)試
脈沖磁場(chǎng)IEC6100-4-9
工頻磁場(chǎng)IEC6100-4-8
電源質(zhì)量類測(cè)試項(xiàng)目(實(shí)驗(yàn)室測(cè)試)
2.4分跌落、中斷、電壓變化三項(xiàng)測(cè)試
IEC6100-4-11
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