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GB/T10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.2-2001 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GJB 150.3A-2009高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009低溫試驗(yàn)
GJB150.*-2009 軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)鑒定方法
溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化