通信檢測(cè)能力
電磁輻射檢測(cè)
產(chǎn)品范圍 | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) |
通信基站、變電站等 | 《環(huán)境電測(cè)波衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)》GB 9175-1998 《電磁輻射防護(hù)規(guī)定》GB8702-1988 《輻射環(huán)境保護(hù)管理導(dǎo)則電磁輻射監(jiān)測(cè)和方法》HJ/T10.2-1996 《輻射環(huán)境保護(hù)管理導(dǎo)則電磁輻射環(huán)境影響評(píng)價(jià)方法與標(biāo)準(zhǔn)》HJ/T10.3-1996 《移動(dòng)通信基站電磁輻射環(huán)境監(jiān)測(cè)方法》 |
無(wú)線電監(jiān)測(cè)設(shè)備監(jiān)測(cè)
類型 | 檢測(cè)項(xiàng)目 | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) |
電性能 | 解調(diào)靈敏度、監(jiān)測(cè)靈敏度、頻率調(diào)諧分辨率力、頻率準(zhǔn)確度、中頻選擇性、三階截?cái)帱c(diǎn)等 | GB/T 32401-2015 VHFUHF 頻段無(wú)線電監(jiān)測(cè)接收機(jī)技術(shù)要求及測(cè)試方法 |
電磁兼容 | 電源端子騷擾電壓、輻射騷擾發(fā)射 | GB/T 34089-2017 VHFUHF無(wú)線電監(jiān)測(cè)測(cè)向系統(tǒng) |
電器安全 | 開(kāi)場(chǎng)測(cè)試參數(shù)和測(cè)試方法 | |
環(huán)境適應(yīng)性 | 低溫、高溫、溫度變化、沖擊、振動(dòng)、濕熱、滴水 | GB 4824、GB 4793.1、GB/T 2423 |
電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性
類型 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
通信芯片可靠性驗(yàn)證 | 新產(chǎn)品NPI導(dǎo)入可靠性驗(yàn)證(PC/HAST/THB/HTSL) 芯片級(jí)ESD(HBM/CDM/LU)測(cè)試 IP ESD能力設(shè)計(jì)驗(yàn)證 老化壽命驗(yàn)證 工藝風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估驗(yàn)證 |
電性能與功能測(cè)試 | 芯片級(jí)測(cè)試與三溫驗(yàn)證(常溫/低溫/高溫) |
工藝質(zhì)量評(píng)價(jià) | 競(jìng)品分析 PCB/PCBA金相切片測(cè)試 X射線透視測(cè)試 產(chǎn)品批次性破壞分析 無(wú)損檢測(cè)分析 |
SOC芯片失效分析 | 電性能分析 樣品破壞分析 精密顯微鏡分析 |
通信設(shè)備試驗(yàn)
1,環(huán)境與可靠性試驗(yàn)
測(cè)試項(xiàng)目 | 溫度試驗(yàn)、高溫、濕熱、低溫、溫度循環(huán)、快速溫變、溫度沖擊、高加速篩選試驗(yàn)、耐濕、鹽霧、淋雨、沙塵試驗(yàn)、高空低氣壓試驗(yàn)、振動(dòng)、跌落、浸漬、機(jī)械沖擊、高加速?zèng)_擊、氙燈試驗(yàn)、紫外線照射、太陽(yáng)光試驗(yàn)、光纖壓力試驗(yàn)、光纖扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)、碰撞試驗(yàn)、氣體腐蝕試驗(yàn) |
2,電磁兼容性試驗(yàn)
測(cè)試項(xiàng)目 | 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) |
傳導(dǎo)騷擾(CE) 輻射騷擾(RE) 靜電放電抗擾度ESD 射頻輻射抗擾度RS 電快速瞬變脈沖群抗擾度EFT 浪涌(沖擊)抗擾度Surge 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)抗擾度CS 工頻磁場(chǎng)抗擾度PFMF 脈沖磁場(chǎng)抗擾度PMF 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓 變化抗擾度DIP | CISPR 32/35(EN 55032/35) ETSI 301 489系列 EN 300 386 IEC 61000-4-2/-3/-4/-5/-6/-8/-11/ IEC 61000-3-2/-3 ITU-T K.20/21(K.44/45) GB 9254 GB 19286 YD/T 993 GB/T 17626.2/.3/.4/.5/.6/.8/.11 GB 17625.1/.2 |